X線作業主任者の過去問の解説：管理（2016年4月）

ここでは、2016年（平成28年）4月公表の過去問のうち「エックス線の管理に関する知識（問1～問10）」について解説いたします。

それぞれの科目の解説は、下記ページからどうぞ。

◆X線作業主任者の過去問の解説：管理（2016年4月）
◆X線作業主任者の過去問の解説：法令（2016年4月）
◆X線作業主任者の過去問の解説：測定（2016年4月）
◆X線作業主任者の過去問の解説：生体（2016年4月）

問1　エックス線管から発生する連続エックス線に関する次の記述のうち、正しいものはどれか。

（1）管電圧が一定の場合、管電流を増加させると、連続エックス線の全強度は管電流に比例して増加する。
（2）管電圧が一定の場合、管電流を増加させると、連続エックス線の最短波長は短くなる。
（3）管電圧が一定の場合、管電流を増加させると、連続エックス線の最高強度を示す波長は長くなる。
（4）管電圧と管電流が一定の場合、ターゲット元素の種類を変えても、連続エックス線の全強度は変わらない。
（5）管電圧と管電流が一定の場合、ターゲット元素の原子番号が小さいほど、連続エックス線の最短波長は長くなる。

問2　特性エックス線に関する次の記述のうち、正しいものはどれか。

（1）特性エックス線の波長は、ターゲット元素の原子番号が大きくなると長くなる。
（2）特性エックス線は、連続スペクトルを示す。
（3）管電圧が、K系列の特性エックス線を発生させるのに必要な限界値であるK励起電圧を下回るときは、他の系列の特性エックス線も発生することはない。
（4）K殻電子が電離されたことにより特性エックス線が発生することを、オージェ効果という。
（5）K系列の特性エックス線は、管電圧を上げると強度が増大するが、その波長は変わらない。

問3　連続エックス線が物体を透過する場合の減弱に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。

（1）連続エックス線が物体を透過すると、実効エネルギーは物体の厚さの増加に伴い低くなる。
（2）連続エックス線が物体を透過すると、全強度は低下し、特に低エネルギー成分の減弱が大きい。
（3）連続エックス線が物体を透過すると、最高強度を示すエックス線エネルギーは、高い方へ移動する。
（4）連続エックス線の実効エネルギーが高くなると、平均減弱係数は小さくなる。
（5）連続エックス線が物体を透過するとき、透過エックス線の全強度が物体に入射する直前の全強度の1／2になる物体の厚さをHaとし、直前の全強度の1／4になる物体の厚さをHbとすれば、HbはHaの2倍よりも大きい。

問4　エックス線と物質との相互作用に関する次の記述のうち、正しいものはどれか。

（1）レイリー散乱により散乱されたエックス線の波長は、入射エックス線より長くなる。
（2）光電効果が起こる確率は、入射エックス線のエネルギーが高くなるほど低下する。
（3）光電効果により原子から放出される光電子の運動エネルギーは、入射エックス線のエネルギーと等しい。
（4）コンプトン効果により散乱したエックス線は波長がそろっており、互いに干渉して回折現象を起こす。
（5）コンプトン効果によるエックス線の散乱は、入射エックス線のエネルギーが高くなると、前方より後方に多く生じるようになる。

問5　単一エネルギーで太い線束のエックス線が吸収体を通過するときの減弱を表す場合に用いられる再生係数（ビルドアップ係数）に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。

（1）再生係数は、1未満となることはない。
（2）再生係数は、線束の広がりが大きいほど大きくなる。
（3）再生係数は、入射エックス線のエネルギーや吸収体の材質によって異なる。
（4）再生係数は、吸収体の厚さが厚くなるほど大きくなる。
（5）再生係数は、入射エックス線の線量率が大きいほど大きくなる。

問6　単一エネルギーの細いエックス線束が物体を透過するときの減弱に関する次の記述のうち、正しいものはどれか。

（1）半価層の値は、エックス線の線量率が高くなると大きくなる。
（2）半価層の値は、エックス線のエネルギーが変わっても変化しない。
（3）半価層h(cm)と減弱係数μ(cm^－1)との間には、μh＝log₁₀2の関係がある。
（4）半価層の5倍に相当する厚さが1／10価層である。
（5）硬エックス線の場合は、軟エックス線の場合より、半価層の値が大きい。

問7　エックス線を利用する装置とその原理との組合せとして、誤っているものは次のうちどれか。

（1）エックス線CT装置　・・・・・・・・・・　回折
（2）エックス線応力測定装置　・・・・・・・　回折
（3）蛍光エックス線分析装置　・・・・・・・　分光
（4）エックス線マイクロアナライザー　・・・　分光
（5）エックス線厚さ計　・・・・・・・・・・　散乱

問8　管理区域設定のための外部放射線の測定に関する次の記述のうち、正しいものはどれか。

（1）放射線測定器は、国家標準とのトレーサビリティが明確になっている基準測定器又は数量が証明されている線源を用いて測定実施日の1年以内に校正されたものを用いる。
（2）測定は、原則として電離箱式サーベイメータを用いることとし、フィルムバッジなどの積算型放射線測定器は用いてはならない。
（3）測定点は、壁等の構造物によって区切られた領域の中央部と境界の床面上10 cmの位置の数箇所とする。
（4）あらかじめ計算により求めた1 cm線量当量又は1 cm線量当量率の高い箇所から低い箇所へ順に測定していく。
（5）あらかじめバックグラウンド値を調査しておき、これを測定値に加算して補正した値を測定結果とする。

問9　あるエネルギーのエックス線に対する鉄の質量滅弱係数が0.5 cm²/gであるとき、このエックス線に対する鉄の1／10価層に最も近い厚さは次のうちどれか。 ただし、鉄の密度は7.9 g/cm³とし、log_e2＝0.69、log_e5＝1.61とする。

（1）3 mm
（2）4 mm
（3）5 mm
（4）6 mm
（5）7 mm

問10　波高値による管電圧が150 kVのエックス線管から発生するエックス線の最短波長(nm)に最も近い値は、次のうちどれか。

（1）0.001
（2）0.008
（3）0.02
（4）0.08
（5）0.2

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