X線作業主任者の過去問の解説：管理（2025年10月）

ここでは、2025年（令和7年）10月公表の過去問のうち「エックス線の管理に関する知識（問1～問10）」について解説いたします。

それぞれの科目の解説は、下記ページからどうぞ。

◆X線作業主任者の過去問の解説：管理（2025年10月）
◆X線作業主任者の過去問の解説：法令（2025年10月）
◆X線作業主任者の過去問の解説：測定（2025年10月）
◆X線作業主任者の過去問の解説：生体（2025年10月）

問１　エックス線管及びエックス線の発生に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。

（１）エックス線管の内部は、効率的にエックス線を発生させるため、高度の真空になっている。
（２）陰極で発生する熱電子の数は、フィラメント電流を変えることで制御される。
（３）陽極のターゲットはエックス線管の軸に対して斜めになっており、加速された熱電子が衝突しエックス線が発生する領域である実焦点は、これをエックス線束の利用方向から見た実効焦点よりも小さくなる。
（４）連続エックス線の発生効率は、ターゲット元素の原子番号と管電圧の積にほぼ比例する。
（５）管電圧がターゲット元素に固有の励起電圧を超える場合、発生するエックス線は、連続エックス線と特性エックス線が混在したものになる。

問２　特性エックス線に関する次の記述のうち、正しいものはどれか。

（１）特性エックス線の波長は、ターゲット元素の原子番号が大きくなると長くなる。
（２）特性エックス線は、原子核のエネルギー準位の遷移に伴い、原子核から放出される。
（３）管電圧が、K系列の特性エックス線を発生させるのに必要な最小値であるＫ励起電圧を下回るときは、他の系列の特性エックス線も発生することはない。
（４）K殻電子が電離されたことによって特性エックス線が発生することをオージェ効果という。
（５）K系列の特性エックス線は、エックス線管の管電圧を上げると強度が増大するが、その波長は変わらない。

問３　エックス線装置について、次のAからDのように条件を変化させるとき、発生する連続エックス線の全強度を大きくするものの全ての組合せは（１）～（５）のうちどれか。

A　管電流は一定にして、管電圧を2倍にする。
B　管電圧は1/2にして、管電流を2倍にする。
C　管電圧は2倍にして、管電流を1/2にする。
D　管電圧及び管電流は一定にして、ターゲットを原子番号のより大きな元素にする。

（１）A,B
（２）A,C
（３）A,C,D
（４）B,C,D
（５）B,D

問４　エックス線と物質との相互作用に関する次の記述のうち、正しいものはどれか。

（１）レイリー散乱により散乱されたエックス線の波長は、入射エックス線の波長より長くなる。
（２）光電効果が生じる確率は、入射エックス線のエネルギーが増大すると、コンプトン効果に比べて急激に低下する。
（３）光電効果により原子から放出される電子の運動エネルギーは、入射エックス線のエネルギーに等しい。
（４）コンプトン効果とは、原子のK殻、L殻等の内殻電子がエックス線光子のエネルギーの一部を吸収して原子の外に飛び出し、入射エックス線が散乱される現象である。
（５）コンプトン効果によるエックス線の散乱は、入射エックス線のエネルギーが高くなると、前方より後方に多く生じるようになる。

問５　単一エネルギーで太い線束のエックス線が物質を透過するときの減弱及び再生係数（ビルドアップ係数）に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。

（１）再生係数は、入射エックス線のエネルギーや物質の種類によって異なる。
（２）再生係数は、物質への照射面積が大きいほど大きくなる。
（３）再生係数は、物質の厚さが薄くなるほど小さくなる。
（４）再生係数は、透過後、物質から離れるほど小さくなり、その値は1に近づく。
（５）再生係数は、入射エックス線の線量率が高くなるほど小さくなる。

問６　エックス線を利用した各種試験装置に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。

（１）蛍光エックス線分析装置は、物質を透過したエックス線を蛍光体を塗布した板の上に当てたときにできる蛍光像を観察することによって、物質の欠陥の程度などを識別する装置である。
（２）エックス線マイクロアナライザーは、細く絞った電子線束を試料の微小部分に照射し、発生する特性エックス線を分光することによって、微小部分の元素を分析する装置である。
（３）エックス線回折装置は、結晶質の物質にエックス線を照射すると特有の回折像が得られることを利用して、物質の結晶構造を解析し、物質の性質を調べる装置である。
（４）エックス線応力測定装置は、応力による結晶の面間隔の変化をエックス線の回折を利用して調べることにより、物質内の残留応力の大きさを測定する装置である。
（５）散乱型厚さ計は、被検査物体にエックス線を照射したときに発生する後方散乱線の強度が、被検査物体の厚さに応じて変化することを利用した装置である。

問７　エックス線の散乱に関する次の文中の［　　］内に入れるAからCの語句又は数値の組合せとして、正しいものは（１）～（５）のうちどれか。

「エックス線装置を用い、管電圧100kVで、厚さが20mmの鋼板及びアルミニウム板のそれぞれにエックス線のビームを垂直に照射し、散乱角135°の方向の後方散乱線の空気カーマ率を、照射野の中心から2mの位置で測定してその大きさを比較したところ、［　A　］の後方散乱線の方が大きかった。
次に、同じ照射条件で、鋼板について、散乱角120°及び135°の方向の後方散乱線の空気カーマ率を、照射野の中心から2mの位置で測定し、その大きさを比較したところ、［　B　］の方向の方が大きかった。
また、同じ照射条件で、鋼板について、散乱角30°及び60°の方向の前方散乱線の空気カーマ率を、照射野の中心から2mの位置で測定し、その大きさを比較したところ、［　C　］の方向の方が大きかった。」

（１）A：鋼板　　　　　　　B：120°　　C：60°
（２）A：鋼板　　　　　　　B：135°　　C：30°
（３）A：鋼板　　　　　　　B：135°　　C：60°
（４）A：アルミニウム板　　B：120°　　C：60°
（５）A：アルミニウム板　　B：135°　　C：30°

問８　エックス線装置を用いて透過写真撮影を行う場合のエックス線の遮蔽及び散乱線の低減に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。

（１）遮蔽体には、原子番号が大きく、密度の高い物質を用いるのがよい。
（２）コンクリートの遮蔽体は、同程度の遮蔽効果を得るために鉛の約2倍の厚さが必要であるが、施工が容易で安価であるため広く用いられている。
（３）照射筒は、照射口に取り付けるラッパ状の遮蔽体で、エックス線束及び散乱線が外部へ漏えいしないようにするために用いる。
（４）絞りは、エックス線束の広がりを制限し、エックス線を必要な部分にだけ照射するために用いる。
（５）ろ過板は、軟エックス線を硬化させる。

問９　図Ⅰのように、鋼板に垂直に細い線束のエックス線を照射し、エックス線管の焦点から5mの位置で、透過したエックス線の1cm線量当量率を測定したところ、64mSv/hであった。
次に図Ⅱのように、この線束を厚さ10mmの鋼板で遮蔽し、エックス線管の焦点から10mの位置で1cm線量当量率を測定したところ2mSv/hとなった。
この遮蔽鋼板を厚いものに替えて、この位置における1cm線量当量率を0.5mSv/h以下とするために必要な遮蔽鋼板の最小の厚さは次のうちどれか。
ただし、エックス線の実効エネルギーは変わらないものとする。また、散乱線の影響は無いものとする。

（１）14　mm
（２）17　mm
（３）20　mm
（４）23　mm
（５）27　mm

問１０　下図のように、エックス線装置を用いて鋼板の透過写真撮影を行うとき、エックス線管の焦点から4mの距離のP点における写真撮影中の1cm線量当量率は0.4mSv/hである。
露出時間が1枚につき120秒の写真を週300枚撮影するとき、エックス線管の焦点とP点を通る直線上で焦点からP点の方向にあるQ点が管理区域の境界線の外側にあるようにしたい。焦点からQ点までの距離として、最も短いものは（１）～（５）のうちどれか。
ただし、3か月は13週とする。

（１）12　m
（２）17　m
（３）22　m
（４）26　m
（５）32　m

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